다수표본 마이크로어레이 및 이차이온질량분석기를 이용한 법과학 증거물 감식방법 및 장치

본 발명은 증거물에 잔류하는 물질을 감식하기 위한 흔적증거물 감식방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 증거물에 잔류하는 물질을 감식하기 위한 흔적증거물 감식방법은, 상기 증거물로부터 획득된 대상증거물과 하나 이상의 기준시료가 시료대에 배치되는 단계, 상기 대상증거물과 상기 하나 이상의 기준시료를 동시에 덮고, 복수 개의 구멍을 포함하는 금속 마이크로어레이 커버가 상기 시료대 위에 고정되는 단계, 이차이온 질량분석기(Secondary Ion Mass Spectrometry)를 이용하여 상기 대상증거물과 상기 하나 이상의 기준시료에 대하여 이온이미지 및 질량스펙트럼을 생성하는 단계, 상기 질량스펙트럼으로부터 특정 이온세기 이상의 피크들로 구성된 피크목록을 생성하는 단계, 상기 피크목록에 포함된 피크들에 대한 이온이미지 매핑을 재생성하는 단계, 및 이온이미지 패턴을 비교하여 상기 대상증거물과 상기 하나 이상의 기준시료의 동일성을 판단하는 단계를 포함한다.

본 발명은 다수표본 마이크로어레이 및 이차이온 질량분석기(Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS)를 이용 한 법과학 증거물 감식방법 및 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 대상증거물과 유사한 기준시료를 하나의 마이크로어레이로 구성하면서 대면적 이온이미지 매핑을 통해 법과학 증거물을 쉽고 빠르게 식별하는 방법에 관 한 것이다.